E. atomic-force microscope; (AFM)Rus. микроскоп /атомный силовой; (АСМ) მაღალი გარჩევადობის მასკანირებელი ზონდური ტიპის მიკროსკოპი. გამოიყენება ზედაპირის რელიეფის გასარჩევად (განსასაზღვრავად). იგი როგორც გამტარი, ისე არაგამტარი ზედაპირების ატომების გარჩევის საშუალებას იძლევა.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.