მ. მა მდ მე მი მო მრ მუ
მიკ მიღ მიც მიწ

მიკროსკოპი/ატომურ-ძალური

E. atomic-force microscope; (AFM)
Rus. микроскоп /атомный силовой; (АСМ)
მაღალი გარჩევადობის მასკანირებელი ზონდური ტიპის მიკროსკოპი. გამოიყენება ზედაპირის რელიეფის გასარჩევად (განსასაზღვრავად). იგი როგორც გამტარი, ისე არაგამტარი ზედაპირების ატომების გარჩევის საშუალებას იძლევა.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.
to main page Top 10FeedbackLogin top of page
© 2008 David A. Mchedlishvili XHTML | CSS Powered by Glossword 1.8.9