E. scanning electron microscopyRus. сканирующая электронная микроскопия ელექტრონული მიკროსკოპიის სახესხვაობა, რომელშიც საკვლევი ზედაპირის ზონდირებისთვის გამოიყენება მასზე ელექტრონების ფოკუსირებული კონით სკანირება. გამოსახულების ფორმირებისთვის გამოიყენება მეორეული ელექტრონების, უკუგაბნეული ელექტრონების, რენტგენული გამოსახივებისა და ნიმუშში გავლილი დენის სხვადასხვაგვარი სიგნალების დეტექტირება. მოხსნილი სიგნალის ორგანზომილებიანი რუკა წარმოადგენს ზედაპირის გამოსახულებას.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.