E. photoemission electron microscopy; РЕЕМRus. фотоэмиссионная электронная микроскопия ფიზიკურ-ქიმიური ანალიზის მეთოდი, რომელშიც ხაზოვნად ან წრიულად პოლარიზებული რენტგენული (X) ან ულტრაიისფერი გამოსხივება ფოკუსირებულია ნიმუშის ზედაპირზე, რაც საშუალებას იძლევა აისახოს ზედაპირიდან გამოსხივებული (ემიტირებული) ელექტრონების განაწილება. ტიპური გარჩევადობა, 8 ნმ.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.