ა. აბ აგ ად აე ალ ამ ან აო არ ას ატ აფ აქ აღ აწ
ამბ ამო ამპ ამფ

ამოჭმა FIB/დაფოკუსებული იონური კონით

E. focused ion-beam etching; FIB
Rus. травление фокусированным ионным пучком; ТФИП
ფუძეშრიდან მასალის ზედაპირული შრის მოცილების მართული პროცესი, ელექტროსტატიკური ლინზების სისტემით მოცემულ უბანზე დაფოკუსებული იონების ნაკადით.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.
to main page Top 10FeedbackLogin top of page
© 2008 David A. Mchedlishvili XHTML | CSS Powered by Glossword 1.8.9