ლექსიკონებიTop 10 Feedback Loginნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი
ა ბ გ დ ე ვ ზ თ ი კ ლ მ ნ ო პ ჟ რ ს ტ უ ფ ქ შ ჩ ც ძ წ ხ ჰ
მ. მა მდ მე მი მო მრ მუ
მ. მ./ მ.;
Suggest a term Print version

მას-სპექტრომეტრია SIMS/მეორეული იონების

E. secondary-ion mass spectrometry; SIMS
Rus. масс-спектрометрия вторичных ионов; МСВИ
ობიექტის კვლევის მეთოდი მას-სპექტომეტრით, რომელიც ეფუძნება, სივრცეში და/ან დროში განაწილებული ობიექტის მეორეული იონების ერთობლივ რეგისტრაციას, რომლებიც დაყოფილი არიან იონის მასის მის მუხტთან ფარდობის მნიშვნელობების მიხედვით და აღძრულია ობიექტის ზედაპირის დაბომბვით პირველადი იონების ნაკადით.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.
to main page Top 10 • Feedback • Login top of page
© 2008 David A. Mchedlishvili XHTML | CSS Powered by Glossword 1.8.9