ლექსიკონებიTop 10 Feedback Loginნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი
ა ბ გ დ ე ვ ზ თ ი კ ლ მ ნ ო პ ჟ რ ს ტ უ ფ ქ შ ჩ ც ძ წ ხ ჰ
მ. მა მდ მე მი მო მრ მუ
მიკ მიღ მიც მიწ
Suggest a term Print version

მიკროსკოპია; AFM / ატომურ-ძალური (მოძვ. ტერმინები - მასკანირებელი ძალური მიკროსკოპია; SFM)

E. atomic force microscopy; AFM; scanning force microscopy (deprecated); SFM (deprecated)
Rus. атомно-силовая микроскопия; ACM, ССМ (Устарело: сканирующая силовая микроскопия)
მიკროსკოპით ობიექტის კვლევის მეთოდი, რომლის დროსაც ობიექტის გამოსახულების ფორმირება ხდება სკანირების (გაშლის) პროცესში ზონდის გადამწოდის (კანტილევერის) ობიექტის ზედაპირთან ურთიერთქმედების ძალის რეგისტრაციის შედეგად.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.
to main page Top 10 • Feedback • Login top of page
© 2008 David A. Mchedlishvili XHTML | CSS Powered by Glossword 1.8.9