E. surface enhanced ellipsometric contrast microscopy; SEEC microscopyRus. эллипсометрическая микроскопия с усилением контраста изображения; ЭМУК ობიექტის კვლევის მეთოდი, ფართოკუთ ხიანი ოპტიკური სისტემის სინათლის მიკროსკოპით, იგი გამოსახულების ფორმირებას ახდენს ობიექტის გამოსახულების კონტრასტის გამაძლიერებელი გადაჯვარედინებული პოლარიზატორებით, რომლებიც აფიქსირებენ ობიექტიდან არეკლილ სინათლის სხივებს, ხოლო ფუძეშრიდან ან სასაგნე მინიდან არეკლილ სხივებს ბლოკავენ.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.