მ. მა მდ მე მი მო მრ მუ
მ. მ./ მ.;

მიკროსკოპია გამოსახულების კონტრასტის გაძლიერებით; SEEC/ელიფსომეტრული

E. surface enhanced ellipsometric contrast microscopy; SEEC microscopy
Rus. эллипсометрическая микроскопия с усилением контраста изображения; ЭМУК
ობიექტის კვლევის მეთოდი, ფართოკუთ ხიანი ოპტიკური სისტემის სინათლის მიკროსკოპით, იგი გამოსახულების ფორმირებას ახდენს ობიექტის გამოსახულების კონტრასტის გამაძლიერებელი გადაჯვარედინებული პოლარიზატორებით, რომლებიც აფიქსირებენ ობიექტიდან არეკლილ სინათლის სხივებს, ხოლო ფუძეშრიდან ან სასაგნე მინიდან არეკლილ სხივებს ბლოკავენ.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.
to main page Top 10FeedbackLogin top of page
© 2008 David A. Mchedlishvili XHTML | CSS Powered by Glossword 1.8.9