მ. მა მდ მე მი მო მრ მუ
მ. მ./ მ.;

მიკროსკოპია LEEM/დაბალი ენერგია

E. low energy electron microscopy; LEEM
Rus. микроскопия медленных электронов; ММЭ
(ნელი) ელექტრონების ობიექტის კვლევის მიკროსკოპული მეთოდი, რომლის დროსაც ობიექტის გამოსახულებას ან მის დიფრაქციულ სურათს აყალიბებს დრეკადად არეკლილი დაბალი ენერგიის ელექტრონები, რომლებიც წარმოიქმნებიან ( გენერირდებიან) ელექტრონული კონით ობიექტის ზედაპირის სკანირების გარეშე.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.
to main page Top 10FeedbackLogin top of page
© 2008 David A. Mchedlishvili XHTML | CSS Powered by Glossword 1.8.9