E. scanning electron microscopy; SEMRus. сканирующая электронная микроскопия; СЭМ ობიექტის სტრუქტურის, შედგენილობისა და ფორმის მიკროსკოპული კვლევის მეთოდი, რომლის დროსაც ობიექტის გამოსახულება ფორმირდება ობიექტის ზედაპირის სკანირებისას ელექტრონული ზონდით (ელექტრონული კონით) და ელექტრონული ზონდით ინდუცირებული მახასიათებელი მეორეული პროცესების რეგისტრაციით (მაგალითად, მეორეული ემისია, ელექტრონების უკუგაბნევა და რენტგენული გამოსხივება).
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.