E. scanning ion microscopyRus. растровая ионная микроскопия ობიექტის კვლევის მიკროსკოპული მეთოდი, რომლის დროსაც ობიექტის გამოსახულება ფორმირდება ობიექტის ზედაპირის სკანირებისას 0.1-იდან 1.0 ნმ-ამდე დიამეტრის დაფოკუსებული იონური კონით.
Source: ნანომეცნიერებისა და ნანოტექნოლოგიების ტერმინთა განმარტებითი ლექსიკონი: ქართულ-ინგლისურ-რუსული/ომარ შურაძე. საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა. თბილისი 2022.